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近年來(lái)，隨著半導(dǎo)體行業(yè)飛速發(fā)展，相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵結(jié)構(gòu)尺寸的進(jìn)一步微納米化，透射電鏡逐漸開(kāi)始作為半導(dǎo)體失效分析的有力工具。為了讓用戶對(duì)透射電鏡相關(guān)內(nèi)容有進(jìn)一步的了解，此次公開(kāi)課特意邀請(qǐng)英國(guó)曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士、廣電計(jì)量半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理劉辰開(kāi)展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用》線上公開(kāi)課。（TEM介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用）
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更新日期：2025-03-19
價(jià)格：
| 品牌 | 廣電計(jì)量 | 課程形式 | 線上直播 |
|---|---|---|---|
| 課程時(shí)間 | 2023-3-30 上午9:30 | 講師 | 英國(guó)曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士 劉辰 |
| 課程價(jià)格 | 免費(fèi) |
透射電子顯微鏡（TEM）于1932年左右發(fā)明，是一種以波長(zhǎng)極短的電子束作為電子光源，利用電子槍發(fā)出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經(jīng)電磁透鏡多級(jí)放大后成像的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。
透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術(shù)聯(lián)用的優(yōu)點(diǎn)，在物理、化學(xué)、生物學(xué)和材料學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。近年來(lái)，隨著半導(dǎo)體行業(yè)飛速發(fā)展，相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵結(jié)構(gòu)尺寸的進(jìn)一步微納米化，透射電鏡逐漸開(kāi)始作為半導(dǎo)體失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像圖
為了讓用戶對(duì)透射電鏡相關(guān)內(nèi)容有進(jìn)一步的了解，此次公開(kāi)課特意邀請(qǐng)英國(guó)曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士、廣電計(jì)量半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理劉辰開(kāi)展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用》線上公開(kāi)課。屆時(shí)，報(bào)名用戶不僅能免費(fèi)參與課程，聽(tīng)課期間還有專業(yè)的技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)為大家進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)答疑。
【主題】透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用
【時(shí)間】時(shí)間3月30日上午9:30-11:00
【講師】劉辰
● 英國(guó)曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士
● 廣電計(jì)量MA技術(shù)線負(fù)責(zé)人
● 近十年材料分析和電鏡實(shí)操經(jīng)驗(yàn)
此次公開(kāi)課不僅作為一場(chǎng)公益課程，更對(duì)于報(bào)名并成功聽(tīng)課的客戶提供優(yōu)惠檢測(cè)服務(wù)方案。
● 優(yōu)惠期間，可享受優(yōu)先檢測(cè)服務(wù)
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【優(yōu)惠期：2023.3.30-2023.4.30】
Q：如何確定已報(bào)名成功？
A：掃碼報(bào)名后界面會(huì)提示“報(bào)名成功"。其次，如您已經(jīng)關(guān)注廣電計(jì)量公眾號(hào)，將會(huì)推送報(bào)名成功信息。
Q：公開(kāi)課開(kāi)始前是否有信息提示？
A：只要您關(guān)注公眾號(hào)并成功報(bào)名，在課程前5-10分會(huì)提醒您聽(tīng)課。
Q：公開(kāi)課結(jié)束后，課程是否可回放？
A：是的。
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